Miniaturized measuring device for eddy current non-destructive testing Wirotest M-series
##plugins.themes.bootstrap3.article.sidebar##
##plugins.themes.bootstrap3.article.main##
Abstrakt
This paper describes the eddy current method and the newly created miniaturized measuring device for non-destructive testing using this method Wirotest M1. The work presents construction and possibilities of applications of the device. Wirotest M1 is characterized by a small mass and size. The ability to work with a tablet or a smartphone makes the device mobile. It can work in manual mode or it can be used on automatic stands.
Pobrania
##plugins.themes.bootstrap3.article.details##
Creative Commons CC BY 4.0 https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Artykuły czasopisma Welding Technology Review (Przegląd Spawalnictwa) publikowane są w otwartym dostępie na licencji CC BY (licencja Creative Commons Uznanie autorstwa 4.0 Międzynarodowe). Licencja CC BY jest najbardziej otwartą dostępną licencją i uważaną za „złoty standard” w formule otwartego dostępu; jest również preferowany przez wielu fundatorów badań. Licencja ta umożliwia czytelnikom kopiowanie i redystrybucję materiału na dowolnym nośniku i w dowolnym formacie, a także zmienianie, przekształcanie lub budowanie na nim materiału, w tym do użytku komercyjnego, pod warunkiem wskazania oryginalnego autora.
Bibliografia
Dybiec Cz., Włodarczyk S.: Badania nieniszczące metodą prądów wirowych możliwości zastosowań, Ochrona przed korozją, nr 3, s. 67-74, 2010.
Lewińska-Romicka A.: Defektoskopia wiroprądowa, Poradnik, Biuro Gamma, Warszawa 1997.
Lewińska-Romicka A.: Badania nieniszczące, Podstawy defektoskopii, Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa 2001.
Lewińska-Romicka A.: Badania materiałów metodą prądów wirowych, Biuro Gamma, Warszawa 2007.
Kondej A., Baranowski M., Niedźwiedzki K., Jończyk. S., Szczepański A.: Automatyczne stanowisko do badań nieniszczących metodą prądów wirowych, Inżynieria Powierzchni, nr 1, s. 57-62, 2014.
Kester W.: Practical design techniques for sensor signal conditioning, Analog Devices, USA 1999.